Measurements of $$gamma$$-ray emission probabilities of $$^{241,243}$$Am and $$^{239}$$Np
$$^{241,243}$$Am及び$$^{239}$$Npの崩壊$$gamma$$線放出率の測定
寺田 和司; 中村 詔司; 中尾 太郎; 木村 敦; 岩本 修; 原田 秀郎; 高宮 幸一*; 堀 順一*
Terada, Kazushi; Nakamura, Shoji; Nakao, Taro; Kimura, Atsushi; Iwamoto, Osamu; Harada, Hideo; Takamiya, Koichi*; Hori, Junichi*
$$^{241,243}$$Am及び$$^{239}$$Npの崩壊$$gamma$$線放出率の高精度測定を実施した。測定試料の放射能は、試料から放出される$$alpha$$粒子をSi半導体検出器で測定することで決定した。そして、$$gamma$$線はプレナ型のHPGe検出器で測定した。Ge検出器の検出効率は標準$$gamma$$線源の測定とPHITSを用いた光子の輸送計算から、50-1332keVのエネルギー領域で0.7%, 50keV以下の領域では1.3%の精度で決定した。最終的に、$$^{241,243}$$Am及び$$^{239}$$Npの主要な崩壊$$gamma$$線放出率を1.2%の精度で得ることができた。
$$gamma$$-ray emission probabilities of $$^{241,243}$$Am and $$^{239}$$Np have been precisely measured with $$gamma$$- and $$alpha$$-ray spectroscopic methods. The activities of $$^{243}$$Am samples were determined by measuring alpha particles using a Si semiconductor detector. $$gamma$$-rays emitted from the samples were measured with a planar type High-Purity Germanium (HPGe) detector. An efficiency curve of the Ge detector was derived with uncertainties of 0.7% from 50 to 1332 keV and 1.3% below 50 keV by combining measured efficiencies and Monte Carlo simulation. The $$gamma$$-ray emission probabilities for the major $$gamma$$-rays of these nuclides were determined with uncertainties less than 1.2%.
使用言語 : English
掲載資料名 : Journal of Nuclear Science and Technology
: 53
: 11
ページ数 : p.1881 - 1888
発行年月 : 2016/11
出版社名 : Taylor & Francis
特許データ :
PDF :
論文URL :
キーワード : no keyword
使用施設 :
広報プレスリリース :
論文解説記事
(成果普及情報誌)
:
受委託・共同研究相手機関 : 文部科学省
 
登録番号 : AA20150511
抄録集掲載番号 : 44001627
論文投稿番号 : 18301
Accesses  (From Jun. 2, 2014)
- Accesses
InCites™
パーセンタイル:100
分野:Nuclear Science & Technology
Altmetrics
Add This