検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~  年

Overview of the PHITS code and application to nuclear data; Radiation damage calculation for materials

PHITSコードの概要と材料の放射線損傷計算への核データ応用

岩元 洋介; 佐藤 達彦; 仁井田 浩二*; 橋本 慎太郎; 小川 達彦; 古田 琢哉; 安部 晋一郎; 甲斐 健師; 松田 規宏; 岩瀬 広*; 中島 宏; 深堀 智生; 奥村 啓介; 甲斐 哲也 ; Sihver, L.*

Iwamoto, Yosuke; Sato, Tatsuhiko; Niita, Koji*; Hashimoto, Shintaro; Ogawa, Tatsuhiko; Furuta, Takuya; Abe, Shinichiro; Kai, Takeshi; Matsuda, Norihiro; Iwase, Hiroshi*; Nakashima, Hiroshi; Fukahori, Tokio; Okumura, Keisuke; Kai, Tetsuya; Sihver, L.*

粒子・重イオン輸送計算コードシステムPHITSは、原子力機構を中心に、複数の国内外の研究機関の協力の下で開発が進められている。同コードは、様々な核反応モデルやデータライブラリにより、中性子・陽子・重イオン・電子・光子等のほとんどの種類の粒子の輸送を取り扱うことが可能で、ソースプログラム,実行ファイル,データライブラリといった全ての構成要素が一つのパッケージにまとめられて配布されている。現在、1800人を超える研究者等がPHITSユーザーとして登録されており、核技術、加速器施設の設計、医学物理といった様々な分野で利用している。本発表ではPHITSに組み込まれている物理モデルを簡単にまとめ、最新のミューオン核反応モデル、$$gamma$$脱励起モデルEBITEMについて紹介する。また、IAEA-CRP「初期の放射線損傷断面積」の活動の下で行っている、PHITSを用いた材料のはじき出し断面積、はじき出し原子エネルギースペクトル、カーマの計算結果について紹介を行う。

A general purpose Monte Carlo Particle and Heavy Ion Transport code System, PHITS, is being developed through the collaboration of several institutes. PHITS can deal with the transport of nearly all particles, including neutrons, protons, heavy ions, photons, and electrons, over wide energy ranges using various nuclear reaction models and data libraries. PHITS users apply the code to various research and development fields such as nuclear technology, accelerator design, medical physics, and cosmic-ray research. This presentation briefly summarizes the physics models implemented in PHITS, and introduces some new models such as muon-induced nuclear reaction model and a $$gamma$$ de-excitation model EBITEM. We will also present the radiation damage cross sections for materials, PKA spectra and kerma factors calculated by PHITS under the IAEA-CRP activity titled "Primary radiation damage cross section."

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.